一、光譜儀主要特點(diǎn)：

體積緊湊，配有底腳，可放置在普通工作臺(tái)或書桌上
使用方便，無需復(fù)雜的設(shè)置，不必有的地線和外接穩(wěn)壓器
通過USB接口，可外置標(biāo)準(zhǔn)PC機(jī)，顯示器和鍵盤
無需真空泵，儀器安裝、調(diào)試非常簡便
開放式火花激發(fā)臺(tái)，適合不同大小和形狀的待測(cè)樣品
可快速進(jìn)行多種元素分析，可選擇的多光室配置系統(tǒng)
每個(gè)光室均配置多元素陣列式CCD探測(cè)器和衍射式全息光柵
全譜接收，可分辨多達(dá)30000條元素譜線。

 二、光譜儀檢測(cè)范圍：

PolySpek系列是英國阿朗推出的新型發(fā)射式光譜儀，具有多片CCD檢測(cè)器和多個(gè)光室結(jié)構(gòu)，增加了光譜波長分析范圍，提高了譜線分辨率，可以對(duì)現(xiàn)有全部商業(yè)牌號(hào)的金屬與合金，進(jìn)行全元素定量分析。PolySpek產(chǎn)品還是老式傳統(tǒng)光譜儀的補(bǔ)充和支持，使金屬分析更簡單、更迅速、更精確，適用范圍更廣。

三、光譜儀的優(yōu)點(diǎn)：

PolySpek采用全新的光室設(shè)計(jì)和優(yōu)化的CCD技術(shù)，極大地增強(qiáng)了儀器的技術(shù)性能。同時(shí)，PolySpek保留了單光室M2500系列產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn)，可以對(duì)現(xiàn)有全部商業(yè)牌號(hào)的金屬與合金，進(jìn)行全元素定量分析。由于CCD技術(shù)是基于對(duì)光譜譜線的全譜接受，因此，PolySpek對(duì)于增加新基體、新增校準(zhǔn)曲線和新增分析元素，并不需要增加新的硬件。從而節(jié)約了費(fèi)用，這是傳統(tǒng)的光電倍增管式光譜儀所不具備的。

 四、關(guān)譜儀技術(shù)參數(shù)：

氬氣氣氛下火花方式激發(fā)PolySpek-N  
 波長范圍225-470納米
用于有色金屬分析，如：鋁、鎂、鋅、銅合金。但不分析磷（P）、硫（S）元素
 單、多基體，及多條分析曲線可選PolySpek-F  氬氣氣氛下火花方式激發(fā)波長范圍165-470納米用于黑色金屬分析，鎳合金中的磷（P）、硫（S）元素分析，以及高氮（N）分析單、多基體，及多條分析曲線可選氬氣氣氛下火花方式激發(fā)ØPolySpek-A  波長范圍165-780 納米用于鋁合金分析，可分析磷（P）、硫（S）、鋰（Li） 、鉀（K）元素單基體分析氬氣氣氛下火花方式激發(fā)ØPolySpek-M  波長范圍165-780納米多基體可選，可分析紫外和遠(yuǎn)紅外區(qū)域的元素譜線

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